Zur Beschleunigung der Gate-Leckstrommessung wird die Gate-kapazität (Bereich < 1000 nF)  erst niederohmig auf Prüfspannung geladen und anschließend der Reststrom gemessen. Danach beginnt die eigentliche Messung. Nach Ablauf der Messzeit kommt der zuletzt gemessene Wert zur Anzeige und wird auf Anfrage übertragen.
Zur Unterdrückung der Netzfrequenz wird die Messung als integrierende Messung durchgeführt. Die Integrationszeit ist messdauerabhängig. Die Messbereichsumschaltung kann automatisch oder manuell erfolgen.
Die Gate-Ladungs-Messung wird mit Hilfe einer Integratorschaltung ermittelt. Die Gate-Kapazität wird über den Vorwiderstand R_V geladen. Der dabei fließende Strom wird im Kondensator C_int integriert. Die Spannung am C_int  entspricht nach Erreichen des stabilen Zustands der im Prüfling gesammelten Ladungsmenge.
Das Gerät verfügt über eine serielle Schnittstelle und ist in allen Funktionen fernsteuerbar. Sobald die serielle Schnittstelle aktiviert wurde ist die manuelle Bedienung gesperrt.
Die Prüfergebnisse stehen sowohl über die serielle Schnittstelle als auch an den Gerätedisplays zur Verfügung.

• Prüfspannung einstellbar im Bereich von 5,0 bis 75,0 V
• Messbereiche Gate-Leckstrom10 / 100 nA / 1 / 10 / 100 µA / 1 / 10 mA
• Messbereich Gate-Ladung 0 bis 50,0 µC