Der Gate-Stress-Generator GSG 664 dient zur definierten Belastung von Leistungshalbleitern, speziell IGBTs mit einem Selektionsimpuls.

Hierzu wird das Gate des Prüflings mit Spannungsimpulsen beaufschlagt. Die Prüfspannung kann im Bereich von 5,0 bis 75,0 V gewählt werden. Die Impulsdauer ist im Bereich von 10 bis 100 µs, die Anstiegs- bzw. Abfallzeit im Bereich von 5 bis 50 µs einstellbar.

Das Gerät verfügt über eine serielle Schnittstelle und ist in allen Funktionen fernsteuerbar. Sobald die serielle Schnittstelle aktiviert wurde, ist die manuelle Bedienung gesperrt. Die Prüfergebnisse und Parameter stehen sowohl über die serielle Schnittstelle als auch an den Gerätedisplays zur Verfügung. Bei Konfiguration des Messgerätes über die serielle Schnittstelle werden die übermittelten Vorgabewerte angezeigt und für die Messung benutzt.

Die Impulsgenerierung wird überwacht. Wird der Impuls nach den eingestellten Parametern erzeugt, wird dies mit der LED PULS signalisiert. Kann der Impuls nicht richtig generiert werden, wird dies mit der LED STÖRUNG angezeigt.

• Prüfspannung einstellbar im Bereich von 5,0 bis 75,0 V
• Impulsdauer einstellbar im Bereich von 10 bis 100 µs ± 1 µs
• Anstiegs- und Abfallzeit einstellbar im Bereich von 5 bis 50µs
• Messbereich der Ausgangsspannung 80 V