Das TSM 664 dient zur Prüfung von Leistungshalbleitern und Leistungshalbleitermodulen mit bis zu 9 Hochstromanschlüssen.

Das System besteht aus bis zu 6 Komponenten und kann je nach Messanforderung in der Zusammenstellung variiert werden. Die Standardausführung besteht aus den Komponenten:

1. Gate-Stress-Gerät GSG 664
   Prüfspannung 5 - 75 V,
   Impulsdauer einstellbar im Bereich von 10 bis 100 µs ± 1 µs
2. Gate-Messgerät GM 664
   Prüfspannung 5 - 75 V, Gate-Leckstrommessung 1nA - 10 mA, Gate-Ladungsmessung 0 - 50 µC
3. IO-Erweiterung 625
4. Sperrspannungsmessgerät SML 664
   Sperrspannung bis 8 kV,
   Sperrstrom bis 300 mA  
5. Messstellen-Umschalter mit 9 Kanälen MU 664
   9 x 4000 A (Hauptstrompfade)
   9 x 2 A (Sense-Anschlüsse) 
   2 x 9 x 2 A (Gate-Anschlüsse)
   9 x 2A (Hilfsemitter-Anschlüsse) Spannungsfestigkeit > 8000 V
   Der MU 664 dient dazu die einzel-nen Komponenten des Testsys-tems mit dem Prüflingsanschlüs-sen verbindet
6. Durchlassspannungsmessgerät DM 664
   Stromimpuls bis zu 4000 A, 500µs
   VP-Messung, gfs-Messung

 

Die Steuerung des Messsystems erfolgt über einen PC, verbunden über zwei serielle Schnittstellen. Die zusätzlich angebotene Bediener-Software erlaubt u. a. die einfache Erstellung von Messroutinen sowie eine ergebnisabhängige Klassifizierung der Prüflinge.

• Sperrspannungsmessung bis zu 8 kV
• Sperrstrommessung bis 300 mA
• Durchlassspannungsmessung bis zu 4000 A, max. 500 µS
• VP-Messung
• gfs-Messung
• Gate-Leckstrommessung im Bereich von 1 nA bis 10 mA
• Gate-Ladungsmessung im Bereich von 0 bis 50 µC
• Messstellenumschalter 9 Kanäle